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泰思肯VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡，采用全新的 Essence™ 電鏡操控軟件系統(tǒng)，將掃描形貌圖像與元素實時分析集成于同一個掃描窗口中。這種組合大大簡化了樣品表面形貌的采集及含元素的數據分析工作，使得第四代 VEGA SEM 成為質量控制、故障分析和研究實驗室中常規(guī)材料等檢測提供更高效的分析的解決方案。《查看更多》

泰思肯MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡 TESCAN MIRA 推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍，在TESCAN 的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實現了 SEM 成像和實時元素分析。這種結合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數據的過程，從而使得MIRA 成為質量控制、失效分析和實驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案。《查看更多》

MAGNA新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡《查看更多》

泰思肯 新一代超高分辨場發(fā)射掃描電鏡 全新設計的CLARA超高分辨場發(fā)射掃描電鏡可以提供的圖像質量，具有強大的擴展分析能力，能夠滿足現今工業(yè)研發(fā)和科研的所有需求，不僅適用于的納米分析應用，也給操作者帶來舒適、高效的使用體驗。《查看更多》